XRF鍍層測厚儀FT230

FT230臺式XRF分析儀的設計大大減少了進(jìn)行測量的時(shí)間。日立工程師意識到樣品的設置和測量配方的選擇往往會(huì )耗費大量的時(shí)間，因此推出了一個(gè)有著(zhù)突破性的分析儀，其可以有效地 "設置 "自己，使得在過(guò)程中可以分析更多的零件。

自動(dòng)化和創(chuàng )新軟件是FT230分析儀的特點(diǎn)。智能識別模塊，如Find My Part?（查找我的樣品），意味著(zhù)操作者只需裝載樣品，確認零件，FT230就會(huì )處理其余的事情。它將在您的部件上找到正確的測量位置--即使是在大型基材上--選擇正確的分析程序并將結果發(fā)送到您的質(zhì)量系統。減少了時(shí)間和人為的錯誤，使得你可以在更短的時(shí)間內完成更多的分析，使的檢查在繁忙的生產(chǎn)環(huán)境中更加現實(shí)。

XRF鍍層測厚儀FT230產(chǎn)品亮點(diǎn)：

FT230的每一個(gè)部分都是為了大幅減少分析時(shí)間而設計的。

自動(dòng)聚焦減少樣品裝載時(shí)間

Find My Part? 自動(dòng)進(jìn)行智能識別以設置完整的測量程序

屏幕大部分區域用來(lái)顯示樣品視圖，提供了的可視度

自檢診斷程序確保了儀器的狀況和穩定性

與其他軟件的無(wú)縫集成使其能夠輕松導出數據

由于采用了新的用戶(hù)界面，非專(zhuān)業(yè)人員也能直觀(guān)、方便地使用。

功能強大，可同時(shí)測量四層鍍層也可分析基質(zhì)

經(jīng)久耐用，在充滿(mǎn)考驗的生產(chǎn)或實(shí)驗室環(huán)境中使用壽命長(cháng)

符合ASTM B568和DIN ISO 3497標準

幫助您滿(mǎn)足ENIG（IPC-4552B）、ENEPIG（IPC-4556）、浸沒(méi)錫（IPC-4554）和浸沒(méi)銀（IPC-4553A）的規格要求

FT230 臺式 XRF 分析儀技術(shù)規格：

分析 詳細內